產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION
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MICROTEST 9332-64PCB多通道線圈阻抗測(cè)試儀
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產(chǎn)品型號(hào)
MICROTEST 9332-64
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2025-12-15
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瀏覽次數(shù)
4114
產(chǎn)品描述
(益和)PCB多通道線圈阻抗測(cè)試儀9332-64 是WPC無(wú)線充電應(yīng)用高效能檢測(cè)方案,採(cǎi)用精密四線式阻抗量測(cè)方式,阻抗量測(cè)頻段可達(dá)到1MHz符合Qi或PMA無(wú)線充電協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)所要求的工作頻率分別是(Qi提出205KHz;PMA提出304KHz)。
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GEN3 CAF2離子遷移測(cè)試儀-256通道 1250V
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產(chǎn)品型號(hào)
GEN3 CAF2
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2025-12-16
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瀏覽次數(shù)
7484
產(chǎn)品描述
離子遷移測(cè)試儀-256通道 1250V 有效監(jiān)測(cè)離子遷移引致表面絕緣阻抗(SIR)變化以及生產(chǎn)PCB內(nèi)層陽(yáng)極導(dǎo)電絲(CAF現(xiàn)象)。GEN3 CAF2可根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求條件和自定義條件進(jìn)行SIR,CAF測(cè)試,GEN3 CAF2和IEC,ISO,IPC,BSI......等機(jī)構(gòu)保持緊密聯(lián)系合作,并訂立相關(guān)SIR測(cè)試協(xié)定,廣泛應(yīng)用于成品壽命可靠度,材料和制程特性研究。
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Microtest6375 6220(益和)直流重疊電流源
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產(chǎn)品型號(hào)
Microtest6375 6220
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2025-12-16
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瀏覽次數(shù)
2317
產(chǎn)品描述
(益和)直流重疊電流源 DC Bias 6210/6220 搭配 LCR Meter 6375-6379 系列 可疊加6臺(tái),輸出電壓20Vdc。 DC Bais 6240 搭配LCR Meter 6577可疊加8臺(tái),輸出電壓 12Vdc。益和DC Bias 電流可至320A。
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7720益和 8通道層間短路測(cè)試儀7720
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產(chǎn)品型號(hào)
7720
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2025-12-16
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瀏覽次數(shù)
1703
產(chǎn)品描述
益和 8通道層間短路測(cè)試儀7720 是8 channels 5KV 線圈層間短路測(cè)試儀器能提供面積比,面積差比,電壓時(shí)間差等波形比對(duì)功能,并可利用游標(biāo)選取比對(duì)的范圍,因而能涵蓋各元件間電器特性差異所產(chǎn)生的波形差異,將不良品精準(zhǔn)的檢查出來(lái)。由于能提供不同諧振模式的選擇,因而能適用各式各樣的線圈產(chǎn)品,視線圈類產(chǎn)品*的儀器。
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7710益和 線圈層間短路測(cè)試儀7710
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產(chǎn)品型號(hào)
7710
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2025-12-16
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瀏覽次數(shù)
1669
產(chǎn)品描述
益和 線圈層間短路測(cè)試儀7710 為2 channels 10KV 線圈層間短路測(cè)試儀器能提供面積比,面積差比,電壓時(shí)間差等波形比對(duì)功能,并可利用游標(biāo)選取比對(duì)的范圍,因而能涵蓋各元件間電器特性差異所產(chǎn)生的波形差異,將不良品精準(zhǔn)的檢查出來(lái)。由于能提供不同諧振模式的選擇,因而能適用各式各樣的線圈產(chǎn)品,視線圈類產(chǎn)品*的儀器。